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套管相对介质介质损耗因数测试的初值宜选择设备停电状态下的电容量合格，带电后立即检测的数值。（)
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第2题
A.应测量绝缘电阻
B.20kV及以上非纯瓷套管应测量介质损耗因数(tanδ)和电容值
C.末屏需检查接地是否良好，对绝缘有怀疑时需进行绝缘电阻测试
D.应进行交流耐压试验
第4题
A.测量绕组连同套管的直流电阻
B.所有分接的电压比
C.绕组连同套管的绝缘电阻
D.绕组连同套管的介质损耗因数(tanδ)
第7题
A.选相倒相法：正、反相测得值的差别较大，有时可达±50%及以上
B.外加反干扰电源补偿法：补偿电源与干扰信号间的相位有不确定性
C.变频测量方法：测量的稳定性、重复性及准确性较差
D.“过零比较”检测方法：测量结果的分散性稍大
第10题
如图4．16所示的放大介质在1．05μm波长处的小信号增益为6dB(即G0=4)，发射截面为10-17cm2，上、下能级寿命分别为500μs和10ns，增益介质每个端面的损耗为2％，环腔中光隔离器的损耗可忽略不计，试计算输出光强。
第11题
A.光纤>粗同轴电缆>细同轴电缆>双绞线
B.光纤>双绞线>粗同轴电缆>>细同轴电缆
C.细同轴电缆>双绞线>粗同轴电缆>光纤
D.光纤>细同轴电缆>粗同轴电缆>双绞线
