‎X射线衍射法可以用于分析纳米材料的晶型以及晶体结构。（)‌

A.X射线衍射法

B.纳米压痕法

C.超显微硬度法

D.中子衍射法

A.溶解性

B.晶型

C.成分

D.表界面

用粉末衍射法(选用铜硒射线，λ=154.2pm)测得某金属前八个衍射角分别为14.73°，21.05°，26.10°，30.58°，34.66°，38.48°，42.25°和45.95°，已知该晶体的密度为0.97g/cm³，求：(1)该晶胞的点阵型式；(2)金属原子的名称。

某立方型金属氧化物的密度为5.22g/cm³，用粉末衍射法(波长为154.2pm)测得各衍射线相应的衍射角为：17.3°，20.1°，29.1°，34.7°，36.5°，43.4°，48.4°，50.2°。请根据以上数据计算或说明：

(1)MO的点阵型式；

(2)晶胞参数和结构基元数；

(3)M的相对原子质量及原子符号。

A.光散射法

B.压电晶体法

C.β射线法

D.红外光吸收法

A.光散射法

B.压电晶体法

C.β射线法

D.光吸收法

A.非晶硅型FPD外形类似X线胶片的暗盒，是一种半导体探测器

B.非晶硒型平板探测器主要由集电矩阵、硒层、电介层、顶层电极和保护层等构成

C.非晶硅平板探测器的探测元阵列的作用是捕获可见荧光并转换成电信号

D.非晶硅平板探测器中使用的碘化铯晶体的X射线吸收系数是X射线能量的函数

E.非晶硒导电特性是在处于普通日光照射下是绝缘体，在X线照射下会有导电现象，且导电率随X线强度的增加而增加