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[主观题]

氧化膜厚度从理论上可依据(厚度=电流密度×时间×理论系数)计算，现正常电流密度为1.5A/dm2，时间为30分钟，理论系数为0.3，问⽣成的氧化膜厚度是多少?

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发布时间：2023-03-26

更多“氧化膜厚度从理论上可依据(厚度=电流密度×时间×理论系数)计算，现正常电流密度为1.5A/dm2，时间为30分钟，理论系数为0.3，问⽣成的氧化膜厚度是多少?”相关的问题

第1题

铝及其合金零件采用硫酸阳极氧化时，提高温度与提高电流密度同样能加速氧化膜的生长，有利于膜的厚度增加。（)

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第2题

纯铝在常温下与空气中氧发生作用，可生成一层厚度为（）g/m的致密的氧化膜，能起到保护作用

A.0.01~0.015

B.0.01~0.02

C.0.02~0.03

D.0.03~0.04

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第3题

由电击穿法评定铝氧化膜层的厚度时，击穿电压越高，膜层越厚。（)

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第4题

单纯改变橡皮滚筒衬垫的厚度从理论上分析，对印版图文尺寸的变化没有关系。（)

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第5题

金属高温氧化生成的氧化膜厚度和时间成（)关系，表明膜中有较多空隙，对环境无明显阻挡作用

A.对数

B.抛物线

C.线形

D.立方

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第6题

印版空白部分始终要保持一定厚度的（)才能使印刷正常进行。

A. 氧化层;

B. 亲水层;

C. 水膜;

D. 墨膜

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第7题

第一类铝和铝合金制品、制件的氧化膜，适合于良好的工作条件，用于不接触有腐蚀性的物质和介质。氧化膜的厚度应不少于（）微米。

A.3

B.6

C.12

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第8题

涡流法测量氧化膜厚度具有快速、⽅便、不破坏等特点，但由于存在着测量误差因此⼀般不适⽤于测量薄的转化膜。（）

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第9题

化学氧化过程中，膜层厚度的增长是非线性的，是按指数规律增长的，这是因为化学氧化过程具有自抑制的性质。（)

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第10题

集成光学中的楔形薄膜耦合器原理如图所示．沉积在玻璃衬底上的是氧化钽（Ta2O5)薄膜，其楔形端从A到B厚度逐渐

集成光学中的楔形薄膜耦合器原理如图所示．沉积在玻璃衬底上的是氧化钽(Ta₂O₅)薄膜，其楔形端从A到B厚度逐渐减小为零．为测定薄膜的厚度，用波长λ=632.8nm的He—Ne激光垂直照射，观察到薄膜楔形端共出现11条暗纹，且A处对应一条暗纹，试求氧化钽薄膜的厚度．(Ta₂O₅对632.8nm激光的折射率为2.21)