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[单选题]

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()

A.平行于探测面的缺陷

B.与探测面倾斜的缺陷

C.垂直于探测面的缺陷

D.不能用斜探头检测的缺陷

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更多“焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()”相关的问题

第1题

对厚焊缝进行串列法探伤时,探头的移动方式分别为()和()两种串列扫查形式。
对厚焊缝进行串列法探伤时,探头的移动方式分别为()和()两种串列扫查形式。

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第2题

在C级探伤中使用,可用于探测厚焊缝中垂直于表面的竖直面状缺陷,特别是反射面较光滑的缺陷(如窄间隙焊中的未熔合)的双探头扫查方法的是()

A.串列扫查

B.交叉扫查

C.V形扫查

D.K形扫查

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第3题

板厚100mm以上窄间隙焊缝的超声检验中,为探测边缘未熔合缺陷,最有效的扫查方式是()

A.斜平行扫查

B.串列扫查

C.双晶斜探头前后扫查

D.交叉扫查

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第4题

钢轨焊缝用的扫查装置,当使用阵列式组合探头对钢轨焊缝进行分段扫查时,扫查间隔应不大于()。

A.15mm

B.20mm

C.25mm

D.30mm

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第5题

新焊焊缝宜用K值大于______的横波探头从踏面或轨头侧面对轨头进行扫查。

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第6题

手工超声检测焊缝时探头扫查速度不应超过200mm/s。()
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第7题

在对接焊缝的超声波横波检测中,若探头的折射角度过于偏小,可能出现的问题是()

A.探伤灵敏度达不到要求

B.焊缝中心部位出现扫查盲区

C.焊缝上下表面附近出现扫查盲区

D.容易产生透过波

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第8题

使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。()
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第9题

由于探头K值较大,在焊缝一侧用全跨距探伤,即可扫查整个焊缝截面,因此没有必要从焊缝另一侧探伤。()
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第10题

使用K型扫查阵列式探头探测焊缝,增加发收晶片数量主要是为了提高()。

A.探伤灵敏度

B.扫查密度

C.定位精度

D.定量精度

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第11题

根据GB/T11345-2013标准,串列检测是指使用两个45°的斜探头,一个用于发射超声波,一个用于接收超声波。()
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